Phát triển phần mềm phân tích vật liệu tinh thể X-Pro 1.0 bằng phương pháp nhiễu xạ X-quang

Nội dung text: Phát triển phần mềm phân tích vật liệu tinh thể X-Pro 1.0 bằng phương pháp nhiễu xạ X-quang

1. PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU TINH THỂ X-PRO 1.0 BẰNG PHƢƠNG PHÁP NHIỄU XẠ X-QUANG DEVELOPMENT OF CRYSTALLINE MATERIAL ANANLYZING SOFTWARE X-PRO 1.0 USING X-RAY DIFFRACTION PGS.TS. Lê Chí Cƣơng, Lê Thị Mỹ Linh Khoa cơ khí máy – Trường ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật Tp.HCM 01 Võ Văn Ngân, Thủ Đức, TP.HCM, Việt Nam, Email: mylinhvsvc@gmail.com Tóm tắt Kỹ thuật nhiễu xạ X quang là một phương pháp hiệu quả nhằm phân tích các tính chất vật liệu. Bài báo đã phát triển phần mềm tính toán dữ liệu nhiễu xạ X quang nhằm phân tích cơ tính của vật liệu tinh thể như tỷ lệ pha của vật liệu ba pha, kích thước tinh thể, chiều dày lớp mạ Quá trình tính toán thử nghiệm cho thấy kết quả nằm trong giới hạn 95% độ tin cậy, đồng thời phù hợp với các kết quả của các phương pháp thông dụng khác như kim tương, kính hiển vi điện tử cho thấy phần mềm được phát triển hoàn toàn có khả năng sử dụng rộng rãi như những sản phẩm thương mại trên thị trường. Abstract X-ray diffaction is an effective method for analyzing material properties. This paper developed a new computational software for determining the properties of crystalline materials such as determining mix ratio for three-phase materials, determining grain size, thin layer thickness, and etc. The results computed from the X-ray diffraction method were compared to those from the traditional methods and they are in the 95% confidential limits, showing that the newly developed software has high reporducibility, opening a possbility of its commercialization. 1. Giới thiệu Hiện nay có nhiều phương pháp phân tích vật liệu phổ biến khác nhau như x-quang, kim tương, kính hiển vi điện tử, phân tích nhiệt Trong số những phương pháp đó, phương pháp nhiễu xạ x-quang đem lại hiệu suất cao bởi vì đây là phương pháp phân tích không phá hủy và phân tích chính xác được nhiều vấn đề liên quan đến vật liệu như ứng suất, kích thước tinh thể, tỉ lệ pha của vật liệu, hệ số đàn hồi, chiều dày lớp mạ và nó có thể dễ dàng để tự động hóa. Phần mềm phân tích vật liệu X-Pro 1.0 được phát triển để phân tích vật liệu dựa trên phương pháp nhiễu xạ x-quang. Dựa vào dữ liệu nhiễu xạ x-quang của vật liệu đó, phần mềm sử dụng các lý thuyết, công thức liên quan đã được nghiên cứu để thực hiện tính toán phân tích xác định các giá trị như tỉ lệ pha vật liệu ba pha, kích thước tinh thể, chiều dài lớp mạ Mỗi tính năng tính toán phân tích vật liệu được thực hiện trên từng nhánh riêng biệt, không đan xen vào nhau, giúp cho người dùng dễ sử dụng trong từng trường hợp tính toán cụ thể. Hiện nay có 2 loại hình lập trình phổ biến được sử dụng là lập trình hướng cấu trúc và lập trình hướng đối tượng. Các ngôn ngữ phổ biến của lập trình cấu trúc như C, Pascal, C++. Lập trình hướng cấu trúc có đặc trưng cơ bản nhất là: “Chương trình = Cấu trúc dữ liệu + Giả thuật”. Ưu điểm của lập trình hướng cấu trúc là chương trình sáng sủa, dễ hiểu, dễ theo dõi. Tư duy giải thuật rõ ràng. Nhưng lập trình cấu trúc có nhược điểm lớn là không hỗ trợ sử dụng lại mã nguồn, giải thuật phụ thuộc chặt chẽ vào cấu trúc dữ liệu, khi thay đổi cấu trúc dữ liệu, phải thay đổi giải thuật, chương trình khó mở rộng và phát triển. Không phù hợp với phần mềm lớn. Để khắc phục các nhược điểm của lập trình cấu trúc người ta sử dụng 1 phương pháp lập trình mới là lập trình hướng đối tượng. Lập trình hướng đối tượng phân tích bài toán thành các thực thể được gọi là đối tượng và sau đó xây dựng các dữ liệu cùng các hàm xung quanh các đối tượng đó. Ưu điểm là có thể sử dụng lại mã nguồn, tiết kiệm tài nguyên, dễ dàng mở rộng, phát triển chương trình. Phù hợp với các dự án phần mềm lớn, phức tạp.
2. Trong các ngôn ngữ lập trình hướng đối tượng, C# là ngôn ngữ mạnh mẽ do Microsoft phát triển dựa trên nền .NET Framework và được rất nhiều cộng động hỗ trợ phát triển các thư viện để hỗ trợ việc lập trình trở nên nhanh chóng. Do đó, phần mềm X-Pro được phát triển dựa trên ngôn ngữ lập trình C# để tận dụng các ưu điểm như sử dụng các thư viện tính toán, có thể dễ dàng mở rộng và phát triển phần mềm. 2. Phần mềm phân tích vật liệu X-Pro 1.0. Phần mềm phân tích vật liệu X-Pro 1.0 có thêm các tính năng như: xác định tỉ lệ pha vật liệu ba pha, tính kích thước tinh thể và chiều dày lớp mạ. Khởi chạy chương trình, người sử dụng tiến hành chọn tập tin dữ liệu nhiễu xạ như đã định dạng và tiến hành tính toán và xuất kết quả đạt được ra cửa sổ chương trình. Bắt đầu Nhập dữ liệu nhiễu xạ Xác định tỉ Tính kích Tính chiều lệ pha của thước tinh dày lớp mạ vật liệu ba thể pha Hiển thị kết quả Kết Thúc Hình 1: Lưu đồ đã phát triển thêm của phần mềm X-Pro 1.0 3. Định dạng tập tin dữ liệu nhiễu xạ. Chương trình X-Pro 1.0 đọc tập tin chứa dữ liệu nhiễu xạ từ tập tin excel hoặc tập tin văn bản txt. Tập tin excell có định dạng giống như tập tin từ máy đo lường của trung tâm hạt nhân thành phố Hồ Chí Minh, như hình 2a. Ta quan tâm đến cột thứ 2 Pos là vị trí của góc nhiễu xạ và cột thứ 3 lobs là cường độ nhiễu xạ. Phần mềm sẽ đọc dữ liệu từ 2 cột dữ liệu này để lấy dữ liệu phân tích tích toán. Tên của mỗi Sheet là góc .
3. (a) (b) Hình 2: Định dạng tập tin dữ liệu của phần mềm X-Pro 1.0 Định dạng của tập tin văn bản txt có định dạng như hình 2b. Các dữ liệu bao gồm góc , góc nhiễu xạ, và cường độ nhiễu xạ. Khi người sử dụng có 1 dữ liệu nhiễu xạ từ 1 nguồn nào khác, có thể sao chép dữ góc nhiễu xạ và cường độ nhiễu xạ vào tập tin excel hay tập tin văn bản có định dạng như hình 2 để tiến hành phân tích tính toán. 4. Các chức năng có thêm của phần mềm. 4.1 Chức năng tính tỉ lệ pha của vật liệu ba pha Chức năng tính tỉ lệ pha của vật liệu ba pha trên phần mềm X-Pro 1.0 có khả năng xác định tỉ lệ pha của vật mẫu ba pha có trong thư viên phần mềm dựa trên nhiễu xạ x-quang. Để tiến hành tính tỉ lệ pha vật liệu ba pha, chọn “Xác định tỉ pha” trên thanh công cụ trên cửa sổ chính của chương trình. Menu xác định tỉ lệ pha hiển thị (hình 3). Hình 3 : Menu của chương trình tính tỉ lệ pha Chọn “Tỉ lệ của 3 pha” để mở dữ liệu nhiễu xạ của vật liệu ba pha cần tính tỉ lệ, Phần mềm vẽ lại đồ thị (hình 4).
4. Hình 4: Cửa sổ đồ thị từ dữ liệu nhiễu xạ Chương trình hiển thị đồ thị của dữ liệu nhiễu xạ, combox tên pha chứa tên của các pha phổ biến, khi chọn tên của 1 pha nào đó trong combox thì thông tin về pha đó sẽ được hiển thị bên dưới, như loại mạng, kiểu mạng, hằng số mạng, và các mặt nhiễu xạ của pha đó. Để chọn 3 pha cần xác định tỉ lệ trong vật liệu, chọn tên pha có trong vật liệu từ combox tên pha, bấm nút “Chọn”, chương trình sẽ sử dụng dữ liệu pha đó trong cơ sở dữ liệu và bước sóng do người dùng nhập vào để thực hiện tính toán được đỉnh nhiễu xạ của các mặt nhiễu xạ của pha được chọn và hiển thị chúng (hình 5). Tiến hành tương tự để chọn tiếp pha thứ 2 và thứ 3. Hình 5: Cửa sổ chương trình khi đã xác định 3 pha Ta có các trường hợp xử lý nền: Trƣờng Pha 1 Pha 2 Pha 3 Thực Hiện hợp Tính năng lượng nhiễu 1 Tách biệt nền Tách biệt nền Tách biệt nền xạ tại các đỉnh nhiễu xạ của mỗi pha Tính năng lượng nhiễu xạ pha 2. Tính năng lượng nhiễu xạ pha 3. Không tách Xác định tổng năng 2 Tách biệt nền Tách biệt nền biệt nền lượng nhiễu xạ 3 pha. Năng lượng nhiễu xạ pha 1 = tổng năng lượng 3 pha – tổng năng lượng pha 2+3 Tính năng lượng nhiễu xạ pha 1. Tính năng lượng nhiễu Không tách biệt xạ pha 3. 3 Tách biệt nền Tách biệt nền nền Xác định tổng năng lượng nhiễu xạ 3 pha. Năng lượng nhiễu xạ pha 2 = tổng năng
5. lượng 3 pha – tổng năng lượng pha 1+3 Tính năng lượng nhiễu xạ pha 1. Tính năng lượng nhiễu xạ pha 2. Xác định tổng năng 4 Tách biệt nền Tách biệt nền Không tách biệt lượng nhiễu xạ 3 pha. nền Năng lượng nhiễu xạ pha 3 = tổng năng lượng 3 pha – tổng năng lượng pha 1+2 Tính năng lượng nhiễu xạ pha 1. Xác định tổng năng Không tác biệt Không tách biệt lượng nhiễu xạ 3 pha. 5 Tách biệt nền nền nền Năng lượng nhiễu xạ pha 2+3= tổng năng lượng 3 pha – năng lượng pha 1 Tính năng lượng nhiễu xạ pha 2. Xác định tổng năng Không tách Không tách biệt lượng nhiễu xạ 3 pha. 6 Tách biệt nền biệt nền nền Năng lượng nhiễu xạ pha 1+3 = tổng năng lượng3 pha – tổng năng lượng pha 2 Tính năng lượng nhiễu xạ pha 3. Xác định tổng năng Không tách Không tác biệt lượng nhiễu xạ 3 pha. 7 biệt nền nền Tách biệt nền Năng lượng nhiễu xạ pha 1+2 = tổng năng lượng 3 pha – tổng năng lượng pha 3 Không thực hiện được Không tách Không tách biệt Không tách biệt 8 tính toán năng lượng biệt nền nền nền để xác định tỉ lệ pha. Bảng 1: Các trường hợp tách biệt nền của vật liệu ba pha Do đó, ở bảng thể hiện thông tin nhiễu xạ của mỗi pha chương trình có tùy chọn “Tách biệt nền”. Quan sát trên đồ thị dữ liệu nhiễu xạ và so sánh với các đỉnh nhiễu xạ của pha. Ta xác định được pha nào có các đỉnh nhiễu xạ tách biệt với cường độ nhiễu xạ nền và ta chọn tách biệt nền cho pha đó. Tùy chọn này giúp chương trình nhận biết được pha nào tách biệt nền để đưa ra phương pháp xử lý nền thích hợp. Sau khi xác định được pha có đỉnh nhiễu xạ tách biệt với nền, ta tiếp tục xác định các mặt nhiễu xạ tách biệt nền của pha đó. Khi ta chọn 1 đỉnh nhiễu xạ tách biệt nền, chương trình sẽ tự động tính toán được năng lượng nhiễu xạ của mặt nhiễu xạ hkl đó. Thể hiện ở hình 6.
6. Hình 6: Năng lượng nhiễu xạ khi ta chọn mặt nhiễu xạ của mỗi pha. Bấm vào nút “Tính Tỉ Lệ Pha” chương trình sẽ tiến hành tính toán tỉ lệ pha theo lưu đồ (hình 7) và hiển thị kết quả lên màn hình (hình 8). Tỷ lệ pha được xác định bằng: Tỉ lệ pha của vật liệu n pha: n E  ()hkl ij q 1 n EE n ()()hkl  hkl n i j i j (4.1) Tỷ lệ pha của vật liệu 3 pha được xác định bằng: E  ()hkl ij q   EEE   ()()()hkli j  hkl i  j  hkl i  j  E   ()hkl ij q   (4.2) EEE   ()()()hkli j  hkl i  j  hkl i  j E  ()hkl   ij q   EEE   ()()()hkli j  hkl i  j  hkl i  j Trong đó: E là năng lượng nhiễu xạ của pha α của các mặt nhiễu xạ ()hkl j ứng với ()hkl ij mỗi bước sóng nhiễu xạ  j , ký hiệu là Eij   E  là năng lượng nhiễu xạ của pha β của các mặt nhiễu xạ ()hkl j ứng với ()hkl ij  mỗi bước sóng nhiễu xạ , ký hiệu là Eij   E  là năng lượng nhiễu xạ của pha γ của các mặt nhiễu xạ ()hkl j ứng với ()hkl ij  mỗi bước sóng nhiễu xạ  j , ký hiệu là Eij Trong đó:
7. xk =2(ϴi - ϴi-1) là bước nhiễu xạ. Zi là cường độ nhiễu xạ x-quang tại góc nhiễu xạ 2ϴi Bắt đầu Nhập dữ liệu Hiển thị đồ thị dữ liệu Tùy chọn pha không Chọn pha có đỉnh nhiễu tách biệt nền xạ tách biệt với nền có Tính tổng năng lượng Hiển thị kết Tính năng lượng pha 1 quả Tính năng lượng pha 2 Tính năng lượng pha 3 Ngưng Tính tỉ lệ pha 1 Tính tỉ lệ pha 2 Tính tỉ lệ pha 3 Hình 7: Lưu đồ xác định tỉ lệ pha Hình 8: Kết quả xác định tỉ lệ pha vật liệu ba pha Kết quả xác định tỉ lệ pha từ hình 12 là từ dữ liệu nhiễu xạ x-quang của hợp kim cứng 3 pha (WC, TiC, Co). So sánh với kết quả tính toán ta có bảng:
8. Thành phần % Pha Phương pháp nhiễu xạ Phương pháp hóa học WC 1.30 % 78.63 0.59 % TiC 1.65 % 14.17 0.52 % Co 1.47% 6.79 0.02 % Bảng 2: So sánh kết quả xác định tỉ lệ pha vật liệu ba pha 4.2 Chức năng tính kích thƣớc tinh thể: Chức năng tính kích thước tinh thể trên phần mềm X-Pro 1.0 có khả năng xác định kích thước tinh thể có trong thư viên phần mềm dựa trên nhiễu xạ x-quang. Để tiến hành tính kích thước tinh thể, chọn “Kích thước tinh thể” trên thanh công cụ trên cửa sổ chính của chương trình. Menu tính kích thước tinh thể hiển thị (hình 9). Hình 9: Menu tính kích thước tinh thể Chọn “Chọn tập tin” để mở dữ liệu nhiễu xạ, phần mềm phân tích và hiển thị: Hình 10: Cửa sổ hiện thị phân tích dữ liệu tính kích thước tinh thể
9. Dựa vào kết quả phân tích dữ liệu, ta nhập đỉnh nhiễu xạ và bề rộng nhiễu xạ, sau đó nhấn “Tính kích thước”, kết quả hiển thị như sau: Hình 11: Cửa sổ hiện thị kết quả tính kích thước tinh thể Phần mềm tính kích thước tinh thể theo lưu đồ (hình 12) và tính theo công thức sau: (4.3) Với: là bề rộng đỉnh phổ nhiễu xạ của mẫu chuẩn là bề rộng đỉnh nhiễu xạ của vật cần tính kích thước BM1 là bề rộng đóng góp từ thiết bị khi đo mẫu chuẩn BM2 là bề rộng đóng góp từ thiết bị khi đo của vật cần tính kích thước BS là bề rộng đóng góp tương ứng của vật liệu nghiên cứu
10. Bắt đầu Nhập dữ liệu Vẽ đồ thị Xác định kích thước tinh thể Hiển thị kết quả Ngưng Hình 12: Lưu đồ xác định kích thước tinh thể So sánh kết quả tính bằng phương pháp nhiễu xạ X-quang từ phần mềm và phương pháp kính hiển vi điện tử (bảng 3) cho thấy kết quả phù hợp. Mẫu Kích thước trung Kích thước-SEM bình–XRD ( µm) (µm) A1-2 3.06 ± 0.09 2.5 A2 3.64 ± 0.12 1 ÷ 8 Bảng 3: So sánh kết quả tính kích thước tinh thể giữa XRD và SEM 4.3 Chức năng tính chiều dày lớp mạ: Chức năng tính chiều dày lớp mạ trên phần mềm X-Pro 1.0 có khả năng xác định chiều dày lớp mạ có trong thư viên phần mềm dựa trên nhiễu xạ x-quang. Để tiến hành tính chiều dày lớp mạ, chọn “Chiều dày lớp mạ” trên thanh công cụ trên cửa sổ chính của chương trình. Menu tính chiều dày lớp mạ hiển thị (hình 13). Hình 13: Menu tính chiều dày lớp mạ Chọn “Chọn tập tin” để mở dữ liệu nhiễu xạ, phần mềm phân tích và hiển thị (hình 14):
11. Hình 14: Cửa sổ tính chiều dày lớp mạ Tiến hành chọn vật liệu mạ, nhập góc  và 0. Sau đó nhấn “Tính”, phần mềm tính chiều dày lớp mạ và hiển thị kết quả (hình 15): Hình 15: Kết quả tính chiều dày lớp mạ Phần mềm tính chiều dày lớp mạ dực vào lưu đồ (hình 16) và công thức sau: Ic os00 [1 cot(   )cot  Đặt f(I,ψ,ψ ,θ) = (4.4) 0 I sin(  )[1 tan  cot  ]  0
12. 11  f () g(μ,ψ0,θ) = cos00 [1 cot(   )cot  ] sin(   )[1 tan  cot  ] (4.5) ln[f I, , 0 ,  ] t = (4.6) g  , 0 ,  trong đó t: Là chiều dày lớp mạ,  và 0 là góc đo theo hai phương pháp đo  và 0, : là góc nhiễu xạ và µ là hệ số hấp thu. Bắt đầu Nhập dữ liệu Vẽ đồ thị Xác định chiều dày lớp phủ Hiển thị kết quả Ngưng Hình 16: Lưu đồ tính chiều dày lớp mạ So sánh kết quả tính chiều dày lơp mạ giữa phương pháp nhiễu xạ X-quang của phần mềm với phương pháp kim tương và từ trường: Bảng 4: So sánh kết quả tính giữa X-quang, kim tương và từ trường. Mẫu X-quang Kim tương Từ trường (phần mềm) (µm) Chiều dày (µm) Chiều dày (µm) 1 2.999±0.487 2.75 2.63±0.22 2 2.956±0.449 3.25 3.14±0.35 3 3.396±0.426 3.5 3.35±0.21 Từ các bảng so sánh kết quả ta thấy phần mềm thực hiện tính toán kết quả chính xác so với kết quả thực hiện bởi các phương pháp khác. Do đó, khi được ứng dụng vào việc tính toán thực tế, phần mềm sẽ giúp cho việc tính toán nhanh chóng và đạt hiệu quả kinh tế cao. 5. Kết luận Phần mềm X-Pro 1.0 đã được phát triển để thực hiện phân tích vật liệu dựa trên lý thuyết nhiễu xạ X-quang. Hiện tại, phần mềm X-Pro 1.0 đã có thể thực hiện thêm các chức năng phân tích và tính toán như sau:
13. + Chức năng tính tỉ lệ pha vật liệu ba pha giúp việc xác định tỉ lệ pha trong vật liệu ba pha trở nên nhanh chóng và thuận tiện hơn. Phần mềm vẽ đồ thị dữ liệu nhiễu xạ và tính toán tỉ lệ của mỗi pha. + Chức năng tính kích thước tinh thể của vật liệu 1 cách nhanh chóng khi đã có đủ dữ liệu nhiễu xạ X-quang thích hợp. + Chức năng tính chiều dày lớp mạ một cách nhanh chóng khi đã có đủ dữ liệu nhiễu xạ X- quang thích hợp. Phần mềm X-Pro 1.0 vẫn được tiếp tục phát triển hoàn thiện và tối ưu quá trình tính toán và thao tác để việc sử dụng dễ dàng và thuận tiện hơn. Các vấn đề cần phát triển: Làm phong phú thư viện dữ liệu nhiễu xạ, Phát triển đa ngôn ngữ trong sử dụng, Đưa phần mềm vào sử dụng như một sản phẩm thương mại. Tài liệu tham khảo 1. Lê Chí Cương, Lê Hoàng Anh, Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009. 2. Lê Chí Cương, Văn Quốc Hữu, Xác định tỷ lệ pha của thép không gỉ song pha Ferrit và Austenite có đề bền cao bằng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2011. 3. Lê Chí Cương, Nguyễn Vũ Long, Phát triển phần mềm phân tích vật liệu bằng nhiễu xạ x- quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2013. 4. Lê Chí Cương, Nguyễn Thị Linh Phượng, xác định kích thước tinh thể zeolite bằng phương pháp nhiễu xạ tia x, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2013. 5. Lê Chí Cương, Nguyễn Trọng Thanh, Nghiên cứu xác định chiều dày màng mỏng bằng nhiễu xạ tia x và so sánh với một số phương pháp khác như siêu âm hay kim tương, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2014. 6. Lê Chí Cương, Nguyễn Hùng Sơn, Nghiên cứu hoàn thiện quy trình xác định tỉ lệ pha cho vật liệu nhiều pha sử dụng nhiễu xạ x- quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2015. 7. Đặng Thanh Linh, Nghiên cứu xác định trạng thái mỏi của lớp tăng bền bề mặt trong quá trình làm việc bằng phương pháp nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sư Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2015. 8. B.D.Culity, Element of X – Ray Diffraction, Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 9. Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method, Elsevier, 1997 10. Noyan IC.; Cohen JB.; Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation, New York: Springer-Verlag; 1987. 11. Bob B. H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009. 12. Ewald P. P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v. a. oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962. 13. Le Chi Cuong, Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application, Doctoral Thesis, Nagaoka UT, Japan, 2004.
14. BÀI BÁO KHOA HỌC THỰC HIỆN CÔNG BỐ THEO QUY CHẾ ĐÀO TẠO THẠC SỸ Bài báo khoa học của học viên có xác nhận và đề xuất cho đăng của Giảng viên hướng dẫn Bản tiếng Việt ©, TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT TP. HỒ CHÍ MINH và TÁC GIẢ Bản quyền tác phẩm đã được bảo hộ bởi Luật xuất bản và Luật Sở hữu trí tuệ Việt Nam. Nghiêm cấm mọi hình thức xuất bản, sao chụp, phát tán nội dung khi chưa có sự đồng ý của tác giả và Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật TP. Hồ Chí Minh. ĐỂ CÓ BÀI BÁO KHOA HỌC TỐT, CẦN CHUNG TAY BẢO VỆ TÁC QUYỀN! Thực hiện theo MTCL & KHTHMTCL Năm học 2016-2017 của Thư viện Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp. Hồ Chí Minh.